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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
Issue date: 2012 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (german version)
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Precon-ditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht herme...
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Withdrawn
: 2023 09 01
Publisher:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 14 Pages
Language:
German
Currently valid:
ICS
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Precon-ditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht hermetisch verkappten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD; en: surface mount device) bestimmt wird. In diesem Prüfverfahren ist der Ablauf der Vorbehandlungsprozedur für nicht hermetisch verkappte Halb-leiter-SMD so festgelegt, dass er repräsentativ für eine industrieübliche Verarbeitung mit mehrfachen Reflowlötungen ist. Diese Halbleiter-SMD sollten einer entsprechenden Vorbehandlungssequenz nach dieser Norm unterzogen werden, bevor sie spezifischen unternehmensinternen Zuverlässigkeitsprüfungen (Qualifikationsprüfungen und/oder Zuverlässigkeits-Monitorprüfungen) vorgelegt werden, um die Langzeit-Zuverlässigkeit (welche durch das Reflowlöten beeinträchtigt wird) zu bewerten.
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-her...
Norm
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-her...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2012 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-herme...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2005 07 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-herme...
Norm
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Issue date :
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (english version)
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Issue date :
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (german version)