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ÖVE/ÖNORM EN 62132-2

Issue date: 2011 08 01

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010) (german version)

Die vorliegende ÖVE/ÖNORM EN legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung...
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Die vorliegende ÖVE/ÖNORM EN legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung fest. Der Frequenzbereich dieses Verfahrens reicht von 150 kHz bis 1 GHz oder wird durch die Grenzen der Kennwerte der TEM-Zelle festgelegt.
ÖVE/ÖNORM EN 62132-2
2011 08 01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immu...
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