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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
Issue date: 2011 09 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (german version)
Dieses Prüfverfahren wird zum Ermitteln zeitbezogener Auswirkungen auf Halbleiterbauelemente verwendet, wenn diese sowohl mit elektrischer Spannung als auch Wärme beanspr...
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Valid
Publisher:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 11 Pages
Language:
German
ICS
Dieses Prüfverfahren wird zum Ermitteln zeitbezogener Auswirkungen auf Halbleiterbauelemente verwendet, wenn diese sowohl mit elektrischer Spannung als auch Wärme beansprucht werden. Es simuliert das Betriebsverhalten der Bauelemente in einer beschleunigenden Art und Weise und wird deshalb primär für die Bauelementequalifikation sowie das Zuverlässigkeitsmonitoring angewandt. Eine Form der Lebensdauer-Prüfung, bei der die betriebsspezifische Spannungs- als auch Wärme-Beanspruchung über eine kurze Dauer ausgeübt wird, allgemein als Burn-in (Voralterung) bekannt, darf zum Screening von Frühausfällen genutzt werden. Die detaillierte Anwendung und Durchführung des Burn-in liegen nicht im Anwendungsbereich dieser Norm.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
2011 09 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating l...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
2004 12 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating l...
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