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DIN EN IEC 60749-17*VDE 0884-749-17
Issue date: 2019 11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019); German version EN IEC 60749-17:2019(DIN EN 60749-17 (2003-09) remains valid alongside this standard until 2022-05-02.)
Dieser Teil der Reihe DIN EN 60749 (VDE 0884-749) enthält das Prüfverfahren mit Neutronenbestrahlung, das angewandt wird, um die Anfälligkeit von Halbleiterbauelementen b...
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Valid
Format:
Paper | 10 Pages
Language:
German
ICS
Dieser Teil der Reihe DIN EN 60749 (VDE 0884-749) enthält das Prüfverfahren mit Neutronenbestrahlung, das angewandt wird, um die Anfälligkeit von Halbleiterbauelementen bezüglich der Degradation durch nichtionisierenden Energieverlust (NIEL) zu bestimmen. Diese Prüfungen sind sowohl auf integrierte Schaltungen als auch auf Einzelhalbleiterbauelemente anwendbar.
DIN EN IEC 60749-17*VDE 0884-749-17
2019 11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 607...
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DIN EN 60749-17
2003 09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 607...
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