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Norm
DIN EN 62373
Issue date: 2007 01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu ...
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Valid
Publisher:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 14 Pages
Language:
German
ICS
In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu prüfen (BT-Test; en: bias-temperature test).
DIN EN 62373
2007 01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (I...
Norm
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