DIN EN 61000-4-20 Berichtigung 1*VDE 0847-4-20 Be

Die Berichtigung 1 dient der Korrektur von Übersetzungsfehlern in der Deutschen Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010, die die Internationale Norm IEC 61000-4-20:2010 übernimmt. Die Norm gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wofür verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) beschrieben werden. Diese beinhalten offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein und es dürfen keine Leitungen an sie angeschlossen sein. Gegenüber der vorhergehenden Norm wurde u. a. die Norm umstrukturiert und die Abschnitte 7 bis 9 sowie ein neuer informativer Anhang E betreffend die Feldsondenkalibrierung ergänzt.