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Norm
DIN EN 60749-6
Issue date: 2017 11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017(DIN EN 60749-6 (2003-04) remains valid alongside this standard until 2020-04-07.)
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist es, die Wirkung erhöhter Temperatur auf alle elektronischen Halbleiterbauelemente bei ihrer Lagerung ohne elektrische Beanspruchun...
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Valid
Publisher:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 9 Pages
Language:
German
ICS
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist es, die Wirkung erhöhter Temperatur auf alle elektronischen Halbleiterbauelemente bei ihrer Lagerung ohne elektrische Beanspruchung zu prüfen und zu bestimmen.
DIN EN 60749-6
2017 11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (...
Norm
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