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Norm
DIN EN 60749-5
Issue date: 2018 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017(DIN EN 60749-5 (2003-09) remains valid alongside this standard until 2020-05-15.)
Dieser Teil der DIN EN 60749 stellt die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverfa...
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Valid
Publisher:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 11 Pages
Language:
German
ICS
Dieser Teil der DIN EN 60749 stellt die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverfahren sowohl bei konstanter Wärme als auch Feuchte und elektrischer Spannungsbelastung bereit.
DIN EN 60749-5
2018 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humi...
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DIN EN 60749-5
2003 09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humi...
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