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Norm
DIN EN 60749-5
Issue date: 2003 09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003(DIN EN 60749 (2002-09), chapter 3, section 4B is valid in parallel until 2006-03-01)
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfv...
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Withdrawn
: 2018 01 01
Publisher:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 10 Pages
Language:
German
Currently valid:
ICS
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverfahren sowohl bei konstanter Wärme als auch Feuchte und elektrischer Spannungsbeanspruchung.
DIN EN 60749-5
2018 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humi...
Norm
DIN EN 60749-5
2003 09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humi...
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Norm
DIN EN 60749-5
Issue date :
2018 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017(DIN EN 60749-5 (2003-09) remains valid alongside this standard until 2020-05-15.)