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Norm
DIN 50448
Issue date: 1998 01
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulation semiconductor slices using a capacitive probe
Das Dokument dient der kontaktfreien Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstandes von hochohmigen, halbisolierenden Halbleiterscheiben.
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Withdrawn
: 2009 01 01
Publisher:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 3 Pages
Language:
German
| English
ICS
Das Dokument dient der kontaktfreien Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstandes von hochohmigen, halbisolierenden Halbleiterscheiben.