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Norm

ÖVE/ÖNORM EN 62276

Ausgabedatum: 2006 05 01

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2005)

Diese ÖVE/ÖNORM gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat-(LN-), Lithiumtantalat-(LT-), Lithiumtetraborat-(LBO)K...
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ZURÜCKGEZOGEN : 2015 11 01
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 38 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
OVE EN 62276:2017 10 01
ICS
31.140
Fachgebiete
IT, Kommunikation & Elektronik, Elektronische Bauelemente, Piezoelektrische Bauelemente
Diese ÖVE/ÖNORM gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat-(LN-), Lithiumtantalat-(LT-), Lithiumtetraborat-(LBO)Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.
OVE EN 62276
2017 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ( IEC 622...
Norm
OVE EN 62276
2017 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measu...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
2013 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measu...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
2013 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 6227...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
2006 05 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 6227...
Norm
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Norm
ISO 4287:1997
Ausgabedatum : 1997 04 03
Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters
Norm
ISO 4287:1997
Ausgabedatum : 1997 04 03
Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
Ausgabedatum : 2013 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2012) (deutsche Fassung)
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
Ausgabedatum : 2013 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012) (english version)