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Norm
OVE EN 62276
Ausgabedatum: 2017 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods ( IEC 62276:2016) (english version)
Gültig
Herausgeber:
Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Format:
Digital | 50 Seiten
Sprache:
Englisch
ICS
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2017 10 01
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ISO 2859-1:1999
Ausgabedatum :
1999 11 18
Sampling procedures for inspection by attributes — Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection