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Norm
OVE EN 62276
Ausgabedatum: 2017 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ( IEC 62276:2016) (deutsche Fassung)
Diese Dokument gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat(LN)-, Lithiumtantalat(LT)-, Lithiumtetraborat(LBO)-Kristal...
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Gültig
Herausgeber:
Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Format:
Digital | 46 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Diese Dokument gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat(LN)-, Lithiumtantalat(LT)-, Lithiumtetraborat(LBO)-Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.
OVE EN 62276
2017 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ( IEC 622...
Norm
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ÖVE/ÖNORM EN 62276
2013 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 6227...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
2013 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measu...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
2006 05 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 6227...
Norm
Norm
ISO 2859-1:1999
Ausgabedatum :
1999 11 18
Sampling procedures for inspection by attributes — Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection