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Norm

ÖVE/ÖNORM EN 60749-26

Ausgabedatum: 2014 10 01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2013) (english version)

ZURÜCKGEZOGEN : 2021 02 01
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 50 Seiten
Sprache:
Englisch
Aktuell Gültig:
OVE EN IEC 60749-26:2018 12 01
ICS
31.080.01
Fachgebiete
IT, communication & electronic, Electronic components, Semiconductor devices in general
OVE EN IEC 60749-26
2018 12 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 26: Electrostatic discharge (E...
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OVE EN IEC 60749-26
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-26
2007 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlich...
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OVE EN IEC 60749-26
Ausgabedatum : 2018 12 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (( IEC 60749-26:2018) (english version)
Norm
OVE EN IEC 60749-26
Ausgabedatum : 2018 12 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) (( IEC 60749-26:2018) (deutsche Fassung)