ÖVE/ÖNORM EN 60749-26

In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, um Halbleiterbauelemente hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen) zu prüfen und zu klassifizieren, wenn diese Bauelemente mit einer elektrostatischen Entladung (ESD; en: electrostatic discharge) nach dem festgelegten Human-Body-Modell (HBM) beansprucht werden. Ziel ist es, zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse für eine korrekte Klassifizierung zu erhalten. Dieses Prüfverfahren kann bei allen Halbleiterbauelementen angewandt werden und ist als zerstörend eingestuft. Die ESD-Prüfbeanspruchungen für Halbleiterbauelemente müssen entsprechend diesem Prüfverfahren oder dem Maschinen-Modell (MM; siehe ÖVE/ÖNORM EN 60749-27) oder anderen in der Reihe ÖVE/ÖNORM EN 60749 festgelegten ESDPrüfverfahren gewählt werden. Sowohl das MM- als auch das HBM-Prüfverfahren liefern ähnliche, aber keine identischen Prüfergebnisse; falls nicht anders festgelegt, ist das HBM-Prüfverfahren zu verwenden. ANMERKUNG Bestimmte Abschnitte dieses Prüfverfahrens entsprechen denen von ÖVE/ÖNORM EN 61340-3-1.