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OVE EN IEC 60749-26

Ausgabedatum: 2018 12 01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) (( IEC 60749-26:2018) (deutsche Fassung)

In diesem Teil von IEC 60749 wird das Verfahren für die Prüfung, Bewertung und Klassifizierung von Bauteilen und Mikroschaltungen nach ihrer Anfälligkeit (Empfindlichkeit...
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Gültig
Herausgeber:
Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Format:
Digital | 58 Seiten
Sprache:
Deutsch
In diesem Teil von IEC 60749 wird das Verfahren für die Prüfung, Bewertung und Klassifizierung von Bauteilen und Mikroschaltungen nach ihrer Anfälligkeit (Empfindlichkeit) gegen Beschädigung oder Funktionsbeeinträchtigung festgelegt, wenn diese Bauteile mit den im Human-Body-Modell (HBM) definierten elektrostatischen Entladungen (ESD) (en: electrostatic discharge) beansprucht werden. Der Zweck dieses Dokuments ist die Festlegung eines Prüfverfahrens, mit dem HBM-Ausfälle wiederholt erzeugt werden und welches ungeachtet der Art des Bauteils von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse liefert. Wiederholbare Daten lassen präzise Klassifizierungen und Vergleiche der HBM-ESD-Empfindlichkeitspegel zu.
OVE EN IEC 60749-26
2018 12 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 26: Prüfung der Empfindli...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-26
2014 10 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlich...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-26
2014 10 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-26
2007 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlich...
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