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Norm
DIN EN 60749-5
Ausgabedatum: 2003 09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003(Daneben darf DIN EN 60749 (2002-09), Kapitel 3, Abschnitt 4B noch bis 2006-03-01 angewendet werden)
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfv...
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ZURÜCKGEZOGEN
: 2018 01 01
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 10 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
ICS
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverfahren sowohl bei konstanter Wärme als auch Feuchte und elektrischer Spannungsbeanspruchung.
DIN EN 60749-5
2018 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei k...
Norm
DIN EN 60749-5
2003 09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei k...
Norm
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Norm
DIN EN 60749-5
Ausgabedatum :
2018 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017); Deutsche Fassung EN 60749-5:2017(Daneben gilt DIN EN 60749-5 (2003-09) noch bis 2020-05-15.)