Jetzt auswählen und bestellen
39,11 €
exkl. USt.
Konfigurieren
Technische Regel Entwurf
VDI/VDE 5575 Blatt 6
Ausgabedatum: 2017 10
Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten
Reflexionszonenplatten haben spektral selektive und zugleich fokussierende und dispersive Eigenschaften. Sie werden unter anderem in der Röntgenmikroskopie und der Röntge...
Weiterlesen
ZURÜCKGEZOGEN
: 2018 09 01
Format:
Digital | 8 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
ICS
Reflexionszonenplatten haben spektral selektive und zugleich fokussierende und dispersive Eigenschaften. Sie werden unter anderem in der Röntgenmikroskopie und der Röntgenspektroskopie eingesetzt. Die Richtlinie beschreibt die physikalischen Grundlagen von Reflexionszonenplatten für Röntgenstrahlen. Als wichtige Bauformen werden Totalreflexions- sowie Bragg-Fresnel-Zonenplatten vorgestellt. Der Aufbau der Reflexionszonenplatten, typische Parameter zur Charakterisierung und die Abhängigkeiten zwischen einzelnen Kenngrößen werden diskutiert. Diese Richtlinie definiert wichtige Kenngrößen von Reflexionszonenplatten und erleichtert damit die Kommunikation zwischen Anbietern und Nutzern dieser Röntgenoptiken. Insbesondere ermöglicht es diese Richtlinie Entwicklern von röntgenoptischen Systemen, Reflexionszonenplatten als Element für Röntgenmikroskope und Spektroskopie richtig zu bewerten und zu spezifizieren.
VDI/VDE 5575 Blatt 6
2017 10
Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten
Technische Regel Entwurf
↖
Technische Regel
VDI/VDE 5575 Blatt 6
Ausgabedatum :
2018 09
Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten