ÖVE/ÖNORM EN 60749-27

In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, um Halbleiterbauelemente hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen) zu prüfen und zu klassifizieren, wenn diese Bauelemente mit einer elektrostatischen Entladung (ESD; en: electrostatic discharge) nach dem festgelegten Maschinen-Modell (MM) beansprucht werden. Dieses Verfahren darf alternativ zum ESD-Prüfverfahren nach dem Human-Body-Modell verwendet werden. Ziel ist es, zuverlässige und wiederholbare ESD-Prüfergebnisse für eine korrekte Klassifizierung zu erhalten. Dieses Prüfverfahren kann bei allen Halbleiterbauelementen angewandt werden und ist als zerstörend eingestuft. Die ESD-Prüfbeanspruchungen für Halbleiterbauelemente müssen entsprechend diesem Prüfverfahren oder dem Human-Body-Modell (HBM; siehe ÖVE/ÖNORM 60749-26) oder anderen in der Reihe ÖVE/ÖNORM EN 60749 festgelegten ESD-Prüfverfahren gewählt werden. Sowohl das MM- als auch das HBM-Prüfverfahren liefern ähnliche, aber keine identischen Prüfergebnisse. Falls nicht anders festgelegt, ist das HBM-Prüfverfahren zu verwenden.