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Norm
OVE EN IEC 60749-30
Ausgabedatum: 2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (english version)
Gültig
Herausgeber:
Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Format:
Digital | 36 Seiten
Sprache:
Englisch
ICS
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