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OVE EN 61189-2-721

Ausgabedatum: 2016 04 01

Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen -- Teil 2-721: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen – Messung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors von kupferkaschiertem Laminat im Mikrowellen-Frequenzbereich unter Verwendung eines Split Post dielektrischen Resonators (IEC 61189-2-721:2015)

Dieser Teil von IEC 61189 beschreibt ein Verfahren zur Bestimmung der relativen Permittivität (er) und des Verlusttangens (tand) (auch als Dielektrizitätskonstante (Dk) bzw. Verlustfaktor (Df) bezeichnet) von kupferkaschierten Laminaten im Mikrowellen-Frequenzbereich (von 1,1 GHz bis 20 GHz) unter Verwendung eines Split Post dielektrischen Resonators (SPDR) (en: split post dielectric resonator). Dieser Teil von IEC 61189 gilt für kupferkaschierte Laminate und dielektrische Basismaterialien.

Allgemeine Information zur OVE EN 61189-2-721

Format
Digital | 26 Seiten
Sprache
Deutsch | Englisch
Herausgeber
Österreichischer Verband für Elektrotechnik

Häufige Fragen zu OVE EN 61189-2-721

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