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Norm
OVE EN 60749-5
Ausgabedatum: 2018 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (english version)
Gültig
Herausgeber:
Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Format:
Digital | 20 Seiten
Sprache:
Englisch
ICS
OVE EN 60749-5
2018 02 01
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-5
2003 10 01
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