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ÖNORM S 5271

Ausgabedatum: 2004 03 01

Planare Szintigraphie und Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie - Konstanzprüfungen apparativer Qualitätsmerkmale

Diese ÖNORM ist anzuwenden für Einkristall-Gammakameras (einschließlich Gammakameras mit mehreren Messköpfen), die für die planare Szintigraphie und/oder für die Einzelph...
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ZURÜCKGEZOGEN : 2012 01 15
Diese ÖNORM ist anzuwenden für Einkristall-Gammakameras (einschließlich Gammakameras mit mehreren Messköpfen), die für die planare Szintigraphie und/oder für die Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie (SPECT, single photon emission computed tomography) verwendet werden. Diese ÖNORM beinhaltet Anforderungen an die zu verwendenden Prüfvorrichtungen und Computerprogramme sowie Richtlinien zur Durchführung der Konstanzprüfung. Bei ausschließlicher Verwendung der Gammakamera für die planare Szintigraphie entfallen die Prüfungen des Rotationssystems und der tomographischen Abbildungseigenschaften. Zweck dieser ÖNORM ist es, einfache Verfahren für die Konstanzprüfung zu geben, die durch den Anwender mit möglichst einfachen Hilfsmitteln durchgeführt werden können. Sie hat weiters den Zweck, die für die Konstanzprüfung notwendigen Verfahren zu standardisieren. Voraussetzung für die Konstanzprüfungen sind Referenzmessungen, die im Anschluss an eine Abnahme- oder Teilabnahmeprüfung durchgeführt werden müssen. Referenzmessungen und Messungen zur Konstanzprüfung sind unter gleichen Bedingungen durchzuführen und müssen dokumentiert werden.
ÖNORM S 5271
2012 01 15
Planare Szintigraphie und Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie - Konstanzprüfungen apparativ...
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ÖNORM S 5271
2004 03 01
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1997 04 01
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ÖNORM S 5271
Ausgabedatum : 2012 01 15
Planare Szintigraphie und Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie - Konstanzprüfungen apparativer Qualitätsmerkmale